钻石磨光和对称性：GIA 术语和缩略语指南
每份 GIA 钻石鉴定证书包含钻石磨光和对称性评估，这些因素都有助于确定钻石修饰的整体质量。 在评估磨光和对称性时，GIA 考虑了它们在 10 倍放大镜下的具体特点和可见度。 磨光和对称性按照从“极优”到“不良”的等级进行评估。
以下指南对每种磨光和对称性特征、它们的缩略语以及钻石上磨光特征的可能位置进行了说明。
鉴定所客户可以登录“我的鉴定所”，进入“物品详细资料”，查看他们提交的每颗钻石的具体磨光和对称性评估数据。
磨光特征
在放大 10 倍的情况下，基于可见到的磨光特征，钻石的磨光级别从“极优”到“不良”不等。 磨光评估将考虑以下特征。| 磨光特征 | 缩略语 | 定义 | 示例 |
|---|---|---|---|
| 磨损 | Abr | 沿刻面边缘分布的微小划痕区或凹坑区会形成一条模糊的白线，而不是尖锐的刻面交线 |
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| 烧灼痕 | Brn Dop |
由于磨光过程中温度太高，或者宝石匠的喷枪造成的白色雾状区被称为“Brn”。 粘杆与钻石的接触位置由于温度过高产生的灼烧痕则被更明确地称为“Dop”。 |
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| 镭射加工残迹 | LMR | 已打磨钻石表面残留的镭射加工残迹；通常呈透明或白色槽状；放大 10 倍情况下未见此残迹深入钻石时，才可认为是磨光特征。 |
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| 蜥蜴皮 | LS | 由于打磨刻面时未按晶纹方向，而在刻面上造成的透明、不均匀纹理 |
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| 小缺口 | Nck | 刻面交线上的小缺口，通常沿腰围分布，或位于尖底 |
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| 凹坑 | Pit | 呈白点状的小开口 |
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| 粗糙腰围 | RG | 由于凹坑和小缺口而造成粗磨的腰围上不规则的麻面或粒状表面。 |
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| 刮痕 | Scr | 表面痕迹，通常呈白色细线状，可以是曲线，也可以是直线。 |
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| 磨光线 | Wht TP 拖拽线 磨光痕迹 |
磨光过程遗留的平行线；呈白色 (Wht) 或透明状 (TP)。 严重的、透明的磨光线，如果不碰到触及表面的的特征，则更明确地称为“拖拽线”。 磨光过程中形成的表面特征，类似于无明显刻面交线或无直刻面交线的的额外刻面，被称为“磨光痕迹”。 |
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磨光特征位置
以下术语专门用于描述磨光特征位置。| 位置 | 缩略语 |
|---|---|
| 风筝刻面 | bez |
| V 形刻面 | chevron |
| 冠角梯级刻面 | crown corner step |
| 冠部 | crown |
| 冠部刻面 | crown facet |
| 冠部梯级刻面 | crown step |
| 尖底 | culet |
| 腰围 | girdle |
| 半月形刻面 | half-moon |
| 腰下刻面 | l.h. |
| 亭部主刻面 | main |
| 亭部 | pav |
| 亭部梯级刻面 | pav corner step |
| 亭部刻面 | pav facet |
| 亭部梯级刻面 | pav step |
| 星形刻面 | star |
| 桌面刻面 | table |
| 上半面刻面 | u.h. |
示例：
对称性特征
在放大 10 倍的情况下，基于可见到的对称性偏差特征，钻石的对称性级别为“极优”到“不良”不等。 对称性评估将考虑以下特征。
| 对称性特征 | 缩略语 | 定义 | 示例 |
|---|---|---|---|
| 冠角偏差 | CV | 冠角不均 |
|
| 冠高偏差 | CHV | 腰围面与桌面不平行造成冠角不均 |
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| 尖底偏离中心 | C/oc | 尖底偏离底部中心位置 |
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| 额外刻面 | EF | 于对称性无益，并且切工式样并未要求的额外刻面 |
|
| 腰围厚度偏差 | GTV | 风筝主刻面位置上的腰围厚度偏差 |
|
| 腰下刻面百分比 偏差 |
LPV | 腰下刻面长度百分比偏差 |
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| 腰下刻面偏差 | LHV | 腰下刻面角不均 |
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| 未对齐 | Aln | 冠部和底部刻面相互错位 |
|
| 刻面畸形 | Fac MB MS MM |
一个刻面与另一个同类型刻面的形状或大小出现差异，或者指定刻面变形；畸形的风筝刻面、星形刻面和主刻面分别被称为畸形风筝刻面 (MB)、畸形星形刻面 (MS) 和畸形主刻面 (MM)。 |
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| 缺失刻面 | MF | 不对称缺失刻面 |
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| 天然面 | N | 已打磨钻石上保留的部分原钻石原石表面 |
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| 桌面非正八边形 | T/oct TEV |
圆形明亮式钻石的桌面不是规则的八边形，显示出四种桌面尺寸 (T/oct) 之间的差异，或者八条桌面边缘 (TEV) 长短不一。 |
|
| 尖端不尖 | Ptg SM SB OM OB |
未达到规定位置的完全成形刻面（短刻面），或不完全打磨的完全成形刻面（开口面），会导致相邻刻面无法在精确点相连接；尖端不尖的风筝刻面和主刻面被更明确地称为短主刻面 (SM)、短风筝刻面 (SB)、开口主刻面 (OM) 和开口风筝刻面 (OB)。 |
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| 腰围轮廓不圆 | OR | 圆形钻石的圆形偏差 |
|
| 底深偏差 | PDV | 底深偏差 |
|
| 底角偏差 | PV | 底角不均 |
|
| 星形刻面百分比偏差 | SPV | 星形刻面长度百分比偏差 |
|
| 星形刻面角偏差 | SV | 星形刻面角不均 |
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| 桌面偏离中心 | T/oc | 桌面偏离冠部中心位置 |
|
| 桌面/尖底对齐 | T/C | 不同方向的桌面刻面与尖底错位 |
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| 腰上刻面偏差 | UHV | 腰上刻面角不均 |
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| 轮廓不匀称 | UO | 不对称形状轮廓；也指天然额外刻面形成的凸面和平面，或圆形钻石上的不均匀腰围刻面 |
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累积
当对称等级由一组对称性特征而非单一偏差决定时，“累积”列于对称性特征下方。 例如，在“很好”与“良好”的边界测量底深偏差 (PDV) 和冠角偏差 (CV) 时，根据其综合外观，钻石所获得的对称性等级可能偏低，可用“累积：PDV，CV”表示。
缩略语
| 磨光特征 | |
|---|---|
| 缩略语 | 磨光特征 |
| Abr | 磨损 |
| Brn | 烧灼痕 |
| Dop | 粘杆灼痕 |
| LMR | 镭射加工残迹 |
| LS | 蜥蜴皮 |
| Nck | 小缺口 |
| Pit | 凹坑 |
| RG | 粗糙腰围 |
| Scr | 刮痕 |
| Wht | 白色磨光线 |
| TP | 透明磨光线 |
| 拖拽线 | |
| 磨光痕迹 |
| 对称性特征 | |
|---|---|
| 缩略语 | 对称性特征 |
| Aln | 不对齐 |
| C/oc | 尖底偏离中心 |
| CV | 冠角偏差 |
| CHV | 冠高偏差 |
| EF | 额外刻面 |
| Fac | 刻面畸形 |
| GTV | 腰围厚度偏差 |
| LHV | 腰下刻面角偏差 |
| LPV | 腰下刻面百分比偏差 |
| MB | 风筝刻面畸形 |
| MF | 缺失刻面 |
| MM | 主刻面畸形 |
| MS | 星形刻面畸形 |
| N | 天然面 |
| OB | 风筝刻面开口 |
| OM | 主刻面开口 |
| OR | 腰围轮廓不圆 |
| PDV | 底深偏差 |
| Ptg | 尖端不尖 |
| PV | 底角偏差 |
| SB | 短风筝刻面 |
| SM | 短主刻面 |
| SPV | 星形刻面长度百分比偏差 |
| SV | 星形刻面角偏差 |
| T/C | 桌面/尖底对齐 |
| T/oc | 桌面偏离中心 |
| T/oct | 桌面非正八边形 |
| TEV | 桌面边缘偏差 |
| UHV | 上半面角偏差 |
| UO | 轮廓不匀称 |
| 磨光位置 | |
|---|---|
| 缩略语 | 磨光位置 |
| bez | 风筝刻面 |
| chevron | V 形刻面 |
| crown corner step | 冠角梯级刻面 |
| crown | 冠部 |
| crown facet | 冠部刻面 |
| crown step | 冠部梯级刻面 |
| culet | 尖底 |
| girdle | 腰围 |
| half-moon | 半月形刻面 |
| l.h. | 腰下刻面 |
| main | 亭部主刻面 |
| pav | 亭部 |
| pav corner step | 亭部梯级刻面 |
| pav facet | 亭部刻面 |
| pav step | 亭部梯级刻面 |
| star | 星形刻面 |
| table | 桌面刻面 |
| u.h. | 上半面刻面 |
| 修饰语* | |
|---|---|
| 缩略语 | 修饰语 |
| sl | 轻微 |
| fnt | 微微 |
| hvy | 严重 |
| + | 多种 |
*2012 年 1 月 30 日之后出具的所有钻石鉴定证书应只能使用此文件中列明的专业术语和缩写词。 您可能会在 2012 年 1 月 30 日之前出具的钻石鉴定证书中发现非标准信息，如使用上述表格所列出的修饰语。
“Sl”和“+”通常用于磨光特征和对称性偏差，而“FNT”和“HVY”仅用于磨光特征。 修饰语“+”指多个同类刻面有同一磨光特征，指多个同类刻面有同一对称性偏差（例如： TP: l.h.+; MM+）。
